WGG2-323型光學(xué)高溫計(jì)

簡(jiǎn)要描述：WGG2-323型光學(xué)高溫計(jì)一般用來測(cè)量700～3200℃范圍澆鑄、軋鋼、鍛壓、熱處理和玻璃熔融時(shí)的溫度，具有結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、使用方便、量程較寬、有較高的精度等優(yōu)點(diǎn)。

產(chǎn)品型號(hào)：

所屬分類：光學(xué)高溫計(jì)

更新時(shí)間：2023-04-10

聯(lián)系我們在線咨詢

詳細(xì)說明：

· WGG2-323型光學(xué)高溫計(jì)由上海自動(dòng)化儀表三廠*生產(chǎn)制造，我廠生產(chǎn)的光學(xué)高溫計(jì)，又稱“非接觸式高溫儀表”，一般用來測(cè)量700～3200℃范圍澆鑄、軋鋼、鍛壓、熱處理和玻璃熔融時(shí)的溫度，具有結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、使用方便、量程較寬、有較高的精度等優(yōu)點(diǎn)。本廠愿竭誠(chéng)心為國(guó)內(nèi)外客商提供優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品和優(yōu)良的技術(shù)服務(wù)！

【產(chǎn)品簡(jiǎn)介】

WGG2-201N型數(shù)顯光學(xué)高溫計(jì)是非接觸式測(cè)量高溫的儀表，當(dāng)被測(cè)量的溫度高于熱電偶所能使用的范圍，以及熱電偶不可能裝置或不適宜裝置的場(chǎng)所，用光學(xué)高溫計(jì)一般可以滿足這個(gè)要求。它廣泛地用來測(cè)量冶煉、澆鑄、軋鋼、玻璃熔窖、鍛打、熱處理等溫度，是冶金、化工和機(jī)械等工業(yè)生產(chǎn)過程中*的溫度測(cè)量?jī)x表之一，并符合JB/T2167-1999標(biāo)準(zhǔn)。

【WGG2-323型光學(xué)高溫計(jì)主要技術(shù)指標(biāo)】

型號(hào)及名稱：

測(cè)溫范圍：1200~3200℃

制造商：上海自動(dòng)化儀表三廠

質(zhì)保期限：壹年

【型號(hào)規(guī)格】

1、測(cè)量范圍和允許的基本誤差

產(chǎn)品型號(hào)	測(cè)量范圍℃	量程	允許基本誤差℃
WGG2-201N	700-2000	1	700-800	±33
		1	800-1500	±22
		2	1200-2000	±30
WGG2-323N	1200-3200	1	1200-2000	±30
WGG2-323N	1200-3200	2	1800-3200	±80

2、工作電壓：3V（兩節(jié)1#干電池）

3、工作距離：不小于0.7m

4、工作環(huán)境：溫度為10-50℃，相對(duì)濕度不大于80%

5、外形尺寸：252*140*164mm

【結(jié)構(gòu)與原理】

（一）原理與結(jié)構(gòu)

產(chǎn)品的原理基于維恩公式，采用已知溫度的亮度（高溫計(jì)燈泡的燈絲的亮度）與被測(cè)物體的亮度進(jìn)行比較來測(cè)量物體的溫度，通過光學(xué)系統(tǒng)在一定波段（0.66μm）范圍比較燈絲與被測(cè)物體的表明亮度，使燈絲的亮度和被測(cè)物體的亮度相均衡，采用數(shù)字檢測(cè)及顯示技術(shù)讀出物體的亮度溫度。
數(shù)字顯示式光學(xué)高溫計(jì)由光學(xué)系統(tǒng)和電測(cè)系統(tǒng)構(gòu)成，結(jié)構(gòu)如圖一所示：

（二）測(cè)量與讀數(shù)

1. 進(jìn)行亮度平衡時(shí)，應(yīng)使燈絲的頂部亮度進(jìn)行平衡，否則會(huì)產(chǎn)生很大的誤差。
2. 瞄準(zhǔn)被測(cè)物體，接通電源，使用S鍵（量程鍵）切換量程，根據(jù)吸收玻璃旋鈕2的指向進(jìn)行選擇。
3. 旋轉(zhuǎn)滑線電阻盤3，使燈絲的電流逐漸的增大，調(diào)節(jié)燈絲的亮度到燈絲頂部的象隱滅在被測(cè)物體的象中，讀取顯示的溫度值。光學(xué)高溫計(jì)燈泡燈絲的隱滅情況如圖四所示。
為了獲得正確的讀數(shù)，應(yīng)該逐漸的調(diào)節(jié)高溫計(jì)燈泡燈絲的電流，先從從暗到亮，從亮到暗反復(fù)兩次，每次調(diào)整到燈絲隱滅時(shí)讀出溫度值，然后將四次讀數(shù)的平均值作為被測(cè)物體的亮度溫度。
4. 數(shù)據(jù)處理
當(dāng)需要存儲(chǔ)當(dāng)前的數(shù)據(jù)時(shí)，要在松開電源開關(guān)7后，按下M/R鍵10（存儲(chǔ)再讀鍵），此次的測(cè)量溫度值被記錄，一共可以存儲(chǔ)十組數(shù)據(jù)。當(dāng)需要查看以前的存儲(chǔ)數(shù)據(jù)時(shí)，在關(guān)機(jī)后按下M/R鍵10，進(jìn)入數(shù)據(jù)回現(xiàn)模式，自動(dòng)顯示zui近一次保存的數(shù)據(jù)，每按一次M/R鍵，顯示上一次保存的數(shù)據(jù)，顯示完十個(gè)數(shù)據(jù)后自動(dòng)跳回*個(gè)數(shù)據(jù)，如圖所示：

5. 求出真實(shí)溫度

      光學(xué)高溫計(jì)是按黑體進(jìn)行溫度刻度的，但在實(shí)際使用中，大部分被測(cè)物體的單位發(fā)射率?λ都小于1，故用光學(xué)高溫計(jì)測(cè)得的亮度溫度S℃總是低于該物體的真實(shí)溫度T℃需要按照附表2修正曲線加以修正。
      修正公式：
      真實(shí)溫度T℃=光學(xué)高溫計(jì)讀數(shù)S℃+溫度修正值Δt℃
      物體的真實(shí)溫度T℃和其亮度溫度S℃及單色發(fā)射率ελ的關(guān)系式如下：

1
T+273

1
S+273

+1.0404×10-4logελ

      修正方法：
      根據(jù)被測(cè)對(duì)象，從附表1中查出其單色發(fā)射率?λ。由高溫計(jì)的zui終讀數(shù)S℃，從曲線圖的橫坐標(biāo)中查出其對(duì)應(yīng)位置，再?gòu)目v坐標(biāo)中查出對(duì)應(yīng)S℃及該種物體的的單色發(fā)射率?λ時(shí)的溫度修正值?t℃。由修正公式求出其真實(shí)溫度T℃。
      6. 關(guān)機(jī)
      當(dāng)光學(xué)高溫計(jì)在待機(jī)15s后，無任何操作，即可關(guān)機(jī)。

附表1.有效波長(zhǎng)λ=0.66μm時(shí)各種金屬材料的單色輻射率

材料名稱	表面無氧化層		有氧化層光滑表面
材料名稱	固態(tài)	液態(tài)	有氧化層光滑表面
鋁	—	—	0.22～0.4
銀	0.07	0.07	—
銅	0.35	0.37	0.8
鑄鐵	0.37	0.4	0.7
銅	0.1	0.15	0.6～0.8
康銅	0.35	—	0.84
鎳	0.36	0.37	0.85～0.96
鎳鉻合金
90%Ni，10%Cr	0.35	—	0.87
80%Ni，20%Cr	0.35	—	0.90
鎳鉻合金
95Ni，Al，Mn，Si	0.37	—	—
磁器	—	—	0.25～0.50
石墨（粉狀）	0.95	—	—
碳	0.80～0.93	—	—

附表2. 光學(xué)高溫計(jì)讀數(shù)修正曲線圖

【應(yīng)用范圍】

適用于各種冶煉、澆鑄、軋鋼、玻璃熔窖、鍛打、熱處理等現(xiàn)場(chǎng)溫度測(cè)量。

【高溫計(jì)使用注意事項(xiàng)】

(1)盡量避免黑度系數(shù)的影響。光學(xué)高溫計(jì)的標(biāo)尺是按黑體標(biāo)定的.而實(shí)際的被測(cè)物體都不是黑體，儀表的讀數(shù)應(yīng)當(dāng)技式(3-50)進(jìn)行修正、求出真實(shí)據(jù)度。由于黑度系數(shù)與物體的材質(zhì)、表面狀況、溫度及波長(zhǎng)等有關(guān)，雖然一些書籍中列入了某些材彩的q值，也只告訴廠一個(gè)估值范圍，實(shí)際應(yīng)用中較難估計(jì)準(zhǔn)確。為了減少這一測(cè)量誤差，可以在測(cè)量中使被測(cè)對(duì)象盡可能地接近黑體。例如，從滬門上的小孔觀測(cè)爐膛內(nèi)部空間的溫度，可以認(rèn)為其黑度系數(shù)近似為1，根據(jù)式(3—50)，儀表示值就基本上是護(hù)膛內(nèi)的真實(shí)溫度，無須加以修正了。

(2)盡量減少中間介質(zhì)的吸收。被測(cè)物體至高溫計(jì)之間的水蒸氣、二氧化碳;灰塵等均會(huì)吸收被測(cè)物體的輻射能，減弱到達(dá)高溫計(jì)的亮度，使測(cè)量結(jié)果低于實(shí)際溫度，因此.應(yīng)當(dāng)盡可能在清潔環(huán)境中測(cè)量，以克服中間介質(zhì)吸收的影響。

(3)測(cè)量距離的限制。由于中間介質(zhì)的影響存在，測(cè)量距離忿大，造成的誤差也愈大。另一方面根據(jù)儀器光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)的要求，測(cè)量距離要大于700mm，因此，光學(xué)高溫計(jì)的測(cè)量距離在 1-2m內(nèi)為好。

(4)防止非自身輻射的影響。如果到達(dá)光學(xué)高溫計(jì)的輻射線不僅有被測(cè)物自身的輻射，還有其它物體發(fā)出經(jīng)被測(cè)物體表面反射而進(jìn)入物鏡的射線時(shí)，使測(cè)量結(jié)果高于實(shí)際物體溫度。